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22. - 25. Mai 2012
 
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8. PhotonicNet Arbeitskreis "Oberflächenbearbeitung"

Datum 12.02.2008
von 10:30 bis 15:00
Ort Münster / Steinfurt
Kontakt PhotonicNet GmbH / Ann Haselroth
E-Mail haselroth@photonicnet.de     
Telefon 0511 / 277 1642
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Schwerpunkt: Laserbasierte Analyse und Charakterisierung von Oberflächen

Der Arbeitskreis trifft sich zweimal im Jahr und steht allen Interessenten offen, die sich branchenübergreifend
  • über neue Entwicklungen austauschen,
  • den Wissenstransfer aus der Wissenschaft in die Industrie und umgekehrt beschleunigen
  • und Partner für Förder- und Forschungsprojekte finden möchten.

Aktuelles Programm

10:30 Uhr Begrüßung
G. Spiecker (Coherent GmbH, Sprecher des Arbeitskreises)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)

10:40 Uhr Vorstellung der Aktivitäten im Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Prof. Dr. Klaus Dickmann (LFM)

11:00 Uhr Chemische Charakterisierung von Oberflächen mit Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) und Low Energy Ion Scattering  LEIS)
Sven Kayser (ION-TOF GmbH, Münster)

11:40 Uhr Detektion von Schichten mittels LIBS-Technik
Jens Hildenhagen (LFM)

12:00 Uhr Mittagspause (Imbiss)

12:45 Uhr Besichtigung LFM

13:30 Uhr VUV-Lichtquellen für die Spurenanalytik
Dr. A. Görtler Coherent GmbH, München

13:50 Uhr Einzelmolekülaufgelöste Analytik an Biologischen Oberflächen
Dr. Jörg Eisfeld (Ionovation GmbH, Osnabrück)

14:10 Uhr Optisch-funktionale Oberflächen durch Laserstrukturierung
Dr. Martin Wehner (Fraunhofer-ILT, Aachen)

14:30 Uhr Hochleistungslaser für die Oberflächenreinigung und Entschichtung
Dr. Uwe Stute (TRUMPF Laser GmbH + Co. KG, Schramberg)

ca. 15:00 Uhr Ende der Veranstaltung


Veranstaltungsort:
Laserzentrum Fachhochschule Münster (LFM)
Stegerwaldstr. 39
48565 Steinfurt (Ortsteil: Burgsteinfurt)
Tel. 02551 / 962324

Anfahrtsbeschreibung


Anmeldung (bis 06.02.)


Link zur Veranstaltung

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